Klein john p edt (16 resultados)
Commitment in Organizations : Accumulated Wisdom and New Directions
Klein, Howard J. (EDT); Becker, Thomas E. (EDT); Meyer, John P. (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Routledge, 2013
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Commitment in Organizations : Accumulated Wisdom and New Directions
Klein, Howard J. (EDT); Becker, Thomas E. (EDT); Meyer, John P. (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Routledge, 2013
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Handbook of Survival Analysis
Klein, John P. (EDT); Van Houwelingen, Hans C. (EDT); Ibrahim, Joseph G. (EDT); Scheike, Thomas H. (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Routledge, 2020
Serie: Libro 11 de 27 - Chapman & Hall/CRC Handbooks of Modern Statistical Methods
- Tapa blanda
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Handbook of Survival Analysis
Klein, John P. (EDT); Van Houwelingen, Hans C. (EDT); Ibrahim, Joseph G. (EDT); Scheike, Thomas H. (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Routledge, 2020
Serie: Libro 11 de 27 - Chapman & Hall/CRC Handbooks of Modern Statistical Methods
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Handbook of Survival Analysis
Klein, John P. (EDT); Van Houwelingen, Hans C. (EDT); Ibrahim, Joseph G. (EDT); Scheike, Thomas H. (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Routledge, 2020
Serie: Libro 11 de 27 - Chapman & Hall/CRC Handbooks of Modern Statistical Methods
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Handbook of Survival Analysis
Klein, John P. (EDT); Van Houwelingen, Hans C. (EDT); Ibrahim, Joseph G. (EDT); Scheike, Thomas H. (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Routledge, 2020
Serie: Libro 11 de 27 - Chapman & Hall/CRC Handbooks of Modern Statistical Methods
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Commitment in Organizations : Accumulated Wisdom and New Directions
Klein, Howard J. (EDT); Becker, Thomas E. (EDT); Meyer, John P. (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Routledge, 2013
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Commitment in Organizations : Accumulated Wisdom and New Directions
Klein, Howard J. (EDT); Becker, Thomas E. (EDT); Meyer, John P. (EDT)
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Editorial: Routledge, 2013
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Commitment in Organizations : Accumulated Wisdom and New Directions
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Idioma: Inglés
Editorial: Routledge, 2009
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Klein, Howard J. (EDT); Becker, Thomas E. (EDT); Meyer, John P. (EDT)
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Editorial: Routledge, 2009
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Klein, Howard J. (EDT); Becker, Thomas E. (EDT); Meyer, John P. (EDT)
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Editorial: Routledge, 2009
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Editorial: Routledge, 2009
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Handbook of Survival Analysis
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Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2013
Serie: Libro 11 de 27 - Chapman & Hall/CRC Handbooks of Modern Statistical Methods
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Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2013
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Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2013
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