John v huddleston (8 resultados)
FE - EIT: AM (Engineer in Training Exam) (Engineering (FE/EiT) Test Preparation)
Ahmed, N. U.; Al-Khafaji, A.; Balachandran, S.; Cimbala, John M.; Friel, L.; Gerez, V.; Huddleston, T.; Ibrahim, R. A.; Kaw, A. K.; Malasri, S.; Muller, M. R.; Ottenstein, Jonathan; Ozokwelu, E.; Purandare, Y. K.; Raus M.S., Randall; Ray, G.; Rikli, N. E.; Samples, J. W.; Simonson, L.
Idioma: Inglés
Editorial: Research & Education Association (edition 3rd), 1998
- Tapa blanda
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FE - EIT: AM (Engineer in Training Exam) (Engineering (FE/EiT) Test Preparation)
Ahmed, N. U.; Al-Khafaji, A.; Balachandran, S.; Cimbala, John M.; Friel, L.; Gerez, V.; Huddleston, T.; Ibrahim, R. A.; Kaw, A. K.; Malasri, S.; Muller, M. R.; Ottenstein, Jonathan; Ozokwelu, E.; Purandare, Y. K.; Raus M.S., Randall; Ray, G.; Rikli, N. E.; Samples, J. W.; Simonson, L.
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Condición: acceptable. Fairly worn, but readable and intact. If applicable: Dust jacket, disc or access code may not be included.
Más imágenesEditorial: Addison-Wesley Publishing Company, Inc., Reading, Massachusetts, U.S.A.; London, England, 1961
- Tapa dura
Librería: Aspen Book Co., Denver, CO, Estados Unidos de AmericaAspen Book Co.
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Librería: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, Estados Unidos de AmericaThriftBooks-Dallas
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Paperback. Condición: Good. Clean solid copy. Unmarked text. ."That is what this book is all about--programming in a particular high-level language and understanding enough about what goes on inside a competer to do it well." .170pgs. Secure packaging! Good plus. p1. Book.
FE - EIT: AM (Engineer in Training Exam) (Engineering (FE/EiT) Test Preparation)
Ahmed, N. U.; Al-Khafaji, A.; Balachandran, S.; Cimbala, John M.; Friel, L.; Gerez, V.; Huddleston, T.; Ibrahim, R. A.; Kaw, A. K.; Malasri, S.; Muller, M. R.; Ottenstein, Jonathan; Ozokwelu, E.; Purandare, Y. K.; Raus M.S., Randall; Ray, G.; Rikli, N. E.; Samples, J. W.; Simonson, L.
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Librería: SHIMEDIA, Brooklyn, NY, Estados Unidos de AmericaSHIMEDIA
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FE - EIT: AM (Engineer in Training Exam) w/CD-ROM (Engineering (FE/EiT) Test Preparation)
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- Tapa blanda
Librería: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Estados Unidos de AmericaBennettBooksLtd
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paperback. Condición: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title.
