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Extended Defects in Semiconductors: Electronic Properties, Device Effects and Structures
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521819342 ISBN 13: 9780521819343
Librería: Sell Books, Elland, YORKS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 13,56
Envío por EUR 14,29
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritohardcover. Condición: Good. Our good condition books are generally good for reading but not for gifting or collecting. They could have imperfections such as creasing, fanning, inscriptions, margin notes, yellowing, staining on edge or cover or pages, bumps, scuffs, etc etc (sometimes multiple of these). It's a wide category that encompasses anything that isn't almost-new down to anything that is slightly better than poor. We would NOT recommend gifting Good books - these should be considered reading copies. Our books are dispatched from a Yorkshire former cotton mill. We list via barcode/ISBN so please note that the images are stock images and may not be the exact copy you receive, furthermore the details about edition and year might not be accurate as many publishers reuse the same ISBN for multiple editions and as we simply scan a barcode or enter an ISBN we do not check the validity of the edition data when listing. If you're looking for an exact edition please don't order (at least not without checking with us first, although we don't always have time to check). We aim to dispatch prompty, the service used will depend on order value and book size. We can ship to most countries, see our shipping policies. Payment is via Abe only.
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Cathodoluminescence Microscopy of Inorganic Solids
Librería: books4less (Versandantiquariat Petra Gros GmbH & Co. KG), Welling, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 11,95
Envío por EUR 15,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritogebundene Ausgabe. Condición: Gut. 292 Seiten; Der Erhaltungszustand des hier angebotenen Werks ist trotz seiner Bibliotheksnutzung sehr sauber. Es befindet sich neben dem Rückenschild lediglich ein Bibliotheksstempel im Buch; ordnungsgemäß entwidmet. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 620.
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Microanalysis of Solids
Idioma: Inglés
Publicado por Plenum Press, New York and London, 1994
ISBN 10: 030644433X ISBN 13: 9780306444333
Librería: Row By Row Bookshop, Sugar Grove, NC, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 43,22
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Good. Estado de la sobrecubierta: No Dust Jacket. First Edition. An ex-library copy in laminated pictorial hard covers, with the usual ex-libris markings. The binding is sound, the text is clean/unmarked, and there is little wear to the covers. No dust jacket, presumed as issued. Book.
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Microanalysis of Solids
Librería: Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 37,39
Envío por EUR 12,51
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Good. Your purchase helps support Sri Lankan Children's Charity 'The Rainbow Centre'. Ex-library, so some stamps and wear, but in good overall condition. Our donations to The Rainbow Centre have helped provide an education and a safe haven to hundreds of children who live in appalling conditions.
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Extended Defects In Semiconductors: Electronic Properties,Device Effects And Structures (Pb 2007)
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521819342 ISBN 13: 9780521819343
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 80,41
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Extended Defects In Semiconductors: Electronic Properties,Device Effects And Structures (Pb 2007)
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521819342 ISBN 13: 9780521819343
Librería: SMASS Sellers, IRVING, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 83,22
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Brand New Original US Edition. Customer service! Satisfaction Guaranteed.
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Extended Defects in Semiconductors: Electronic Properties, Device Effects and Structures
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107424143 ISBN 13: 9781107424142
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 102,65
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Extended Defects in Semiconductors: Electronic Properties, Device Effects and Structures
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107424143 ISBN 13: 9781107424142
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 95,02
Envío por EUR 14,09
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Microanalysis of Solids - Cell to System
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 138,45
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Añadir al carritoCondición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Microanalysis of Solids - Cell to System
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 138,45
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Añadir al carritoCondición: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Microanalysis of Solids
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 34,06
Envío por EUR 105,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 484 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | The main objective of this book is to systematically describe the basic principles of the most widely used techniques for the analysis of physical, structural, and compositional properties of solids with a spatial resolution of approxi mately 1 ~m or less. Many books and reviews on a wide variety of microanalysis techniques have appeared in recent years, and the purpose of this book is not to replace them. Rather, the motivation for combining the descriptions of various mi croanalysis techniques in one comprehensive volume is the need for a reference source to help identify microanalysis techniques, and their capabilities, for obtaining particular information on solid-state materials. In principle, there are several possible ways to group the various micro analysis techniques. They can be distinguished by the means of excitation, or the emitted species, or whether they are surface or bulk-sensitive techniques, or on the basis of the information obtained. We have chosen to group them according to the means of excitation. Thus, the major parts of the book are: Electron Beam Techniques, Ion Beam Techniques, Photon Beam Techniques, Acoustic Wave Excitation, and Tunneling of Electrons and Scanning Probe Microscopies. We hope that this book will be useful to students (final year undergrad uates and graduates) and researchers, such as physicists, material scientists, electrical engineers, and chemists, working in a wide variety of fields in solid state sciences.
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Cathodoluminescence Microscopy of Inorganic Solids
Librería: CSG Onlinebuch GMBH, Darmstadt, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 59,42
Envío por EUR 95,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoGebundene Ausgabe. Condición: Gut. Gebraucht - Gut ausgesondertes Bibliotheksexemplar mit den üblichen Signaturen, -Microcharacterization of materials is a rapidly advancing field. Among the many electron and ion probe techniques, the cathodoluminescence mode of an electron probe instrument has reached a certain maturity, which is reflected by an increas ing number of publications in this field. The rapid rate of progress in applications of cathodoluminescence techniques in characterizing inorganic solids has been especially noticeable in recent years. The main purpose of the book is to outline the applications of cath odoluminescence techniques in the assessment of optical and electronic proper ties of inorganic solids, such as semiconductors, phosphors, ceramics, and min erals. The assessment provides, for example, information on impurity levels derived from cathodoluminescence spectroscopy, analysis of dopant concentra tions at a level that, in some cases, is several orders of magnitude lower than that attainable by x-ray microanalysis, the mapping of defects, and the determination of carrier lifetimes and the charge carrier capture cross sections of impurities. In order to make the book self-contained, some basic concepts of solid-state phys ics, as well as various cathodoluminescence techniques and the processes leading to luminescence phenomena in inorganic solids, are also described. We hope that this book will be useful to both scientists and graduate students interested in microcharacterization of inorganic solids. This book, however, was not intended as a definitive account of cathodoluminescence analysis of in organic solids. In considering the results presented here, readers should re member that many materials have properties that vary widely as a function of preparation conditions.
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Cathodoluminescence Microscopy of Inorganic Solids
Librería: A Squared Books (Don Dewhirst), South Lyon, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 162,37
Envío por EUR 5,67
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good. New York, 1990; blue cloth covered boards; minimal shelf wear; 8vo - over 7 3/4" to 9 3/4" tall; better than very good condition; interior clean and unmarked; 292 pages.
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Extended Defects in Semiconductors : Electronic Properties, Device Effects and Structures
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521819342 ISBN 13: 9780521819343
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 175,01
Envío por EUR 2,31
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Extended Defects in Semiconductors: Electronic Properties, Device Effects and Structures
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521819342 ISBN 13: 9780521819343
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 177,39
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Extended Defects in Semiconductors : Electronic Properties, Device Effects and Structures
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521819342 ISBN 13: 9780521819343
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 181,04
Envío por EUR 2,31
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Extended Defects in Semiconductors: Electronic Properties, Device Effects and Structures
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521819342 ISBN 13: 9780521819343
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 170,68
Envío por EUR 14,09
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Extended Defects in Semiconductors : Electronic Properties, Device Effects and Structures
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521819342 ISBN 13: 9780521819343
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 170,67
Envío por EUR 17,64
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Cathodoluminescence Microscopy of Inorganic Solids
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 136,16
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoKartoniert / Broschiert. Condición: New.
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Extended Defects in Semiconductors
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107424143 ISBN 13: 9781107424142
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 185,45
Envío por EUR 9,18
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. An advanced undergraduate/graduate-level text explaining the properties and roles of extended defects in semiconductors. Num Pages: 644 pages, black & white illustrations. BIC Classification: PHFC; TGMT; TGX. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 244 x 170 x 33. Weight in Grams: 1010. . 2014. Paperback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Microanalysis of Solids
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 195,77
Envío por EUR 3,49
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Used. pp. 480.
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Extended Defects in Semiconductors : Electronic Properties, Device Effects and Structures
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521819342 ISBN 13: 9780521819343
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 191,19
Envío por EUR 17,64
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Microanalysis of Solids
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 203,22
Envío por EUR 7,64
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Used. pp. 480 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Cathodoluminescence Microscopy of Inorganic Solids
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 215,13
Envío por EUR 3,49
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 304.
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Microanalysis of Solids
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 204,29
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Used. pp. 480.
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Extended Defects in Semiconductors
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107424143 ISBN 13: 9781107424142
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 209,08
Envío por EUR 10,50
Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. An advanced undergraduate/graduate-level text explaining the properties and roles of extended defects in semiconductors. Num Pages: 644 pages, black & white illustrations. BIC Classification: PHFC; TGMT; TGX. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 244 x 170 x 33. Weight in Grams: 1010. . 2014. Paperback. . . . .
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Microanalysis of Solids
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 231,74
Envío por EUR 2,31
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Microanalysis of Solids
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 234,12
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Microanalysis of Solids
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 215,93
Envío por EUR 17,64
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Microanalysis of Solids
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 180,07
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoKartoniert / Broschiert. Condición: New.
