Grabowski jens (82 resultados)
Model-Driven Testing: Using the UML Testing Profile
Baker, Paul; Dai, Zhen Ru; Grabowski, Jens; Schieferdecker, Ina; Williams, Clay
- Tapa dura
Librería: Zoom Books East, Glendale Heights, IL, Estados Unidos de AmericaZoom Books East
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Model-Driven Testing : Using the UML Testing Profile
Grabowski, Jens, Williams, Clay, Baker, Paul, Schieferdecker, Ina, Dai, Zhen Ru
- Tapa dura
- Primera edición
Librería: Better World Books, Mishawaka, IN, Estados Unidos de AmericaBetter World Books
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Hardcover. Condición: Good. No Jacket. Pages can have notes/highlighting. Spine may show signs of wear. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
Model-Driven Testing: Using the UML Testing Profile
Baker, Paul; Dai, Zhen Ru; Grabowski, Jens; Schieferdecker, Ina; Williams, Clay
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- Tapa blanda
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Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino UnidoChiron Media
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- Tapa blanda
Librería: GuthrieBooks, Spring Branch, TX, Estados Unidos de AmericaGuthrieBooks
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EUR 37,25
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Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
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Condición: New. pp. 200.
Model-Driven Testing (Hb)
Baker, Paul; Dai, Zhen Ru; Grabowski, Jens; Schieferdecker, Ina; Williams, Clay
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Paperback. Condición: Brand New. French language. 11.50x7.64x0.31 inches. In Stock.
Model-Driven Testing : Using the UML Testing Profile
Baker, Paul; Dai, Zhen Ru; Grabowski, Jens; Haugen, Oystein; Schieferdecker, Ina
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- Tapa blanda
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
- Tapa blanda
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EUR 62,96
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Condición: New.
- Tapa blanda
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Condición: New.
Formal Approaches to Software Testing : 4th International Workshop, Fates 2004, Linz, Austria, September 21, 2004
Grabowski, Jens; Nielsen, Brian; Fates 200 (2004 Linz, Austria)
- Tapa blanda
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Condición: New.
Simulation Science : First International Workshop, Simscience 2017, Göttingen, Germany, April 27-28, 2017, Revised Selected Papers
Baum, Marcus (EDT); Brenner, Gunther (EDT); Grabowski, Jens (EDT); Hanschke, Thomas (EDT); Hartmann, Stefan (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
Serie: Libro 228 de 578 - Communications in Computer and Information Science
- Tapa blanda
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- Tapa blanda
Librería: buchlando-buchankauf, Neumünster, SH, Alemaniabuchlando-buchankauf
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EUR 20,00
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Taschenbuch. Condición: Sehr gut. 256 Seiten; sehr gut erhalten, Stempel/MÃ?ngelexemplar ZA 9704395 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 3927.
Simulation Science : First International Workshop, Simscience 2017, Göttingen, Germany, April 27-28, 2017, Revised Selected Papers
Baum, Marcus (EDT); Brenner, Gunther (EDT); Grabowski, Jens (EDT); Hanschke, Thomas (EDT); Hartmann, Stefan (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
Serie: Libro 228 de 578 - Communications in Computer and Information Science
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 65,47
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Model-driven Testing : Using the Uml Testing Profile
Baker, Paul; Dai, Zhen Ru; Grabowski, Jens; Schieferdecker, Ina; Williams, Clay
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 74,40
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Condición: New.
Formal Approaches to Software Testing : 4th International Workshop, Fates 2004, Linz, Austria, September 21, 2004
Grabowski, Jens; Nielsen, Brian; Fates 200 (2004 Linz, Austria)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 61,71
Envío por EUR 17,95Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
Simulation Science : First International Workshop, Simscience 2017, Göttingen, Germany, April 27-28, 2017, Revised Selected Papers
Baum, Marcus (EDT); Brenner, Gunther (EDT); Grabowski, Jens (EDT); Hanschke, Thomas (EDT); Hartmann, Stefan (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
Serie: Libro 228 de 578 - Communications in Computer and Information Science
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 61,91
Envío por EUR 17,95Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 61,92
Envío por EUR 17,95Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
Model-Driven Testing: Using the UML Testing Profile
Baker, Paul; Dai, Zhen Ru; Grabowski, Jens; Schieferdecker, Ina; Williams, Clay
- Tapa blanda
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaCalifornia Books
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EUR 77,37
Envío por EUR 2,68Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 68,95
Envío por EUR 11,21Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In English.
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 68,95
Envío por EUR 11,21Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In English.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
Serie: Libro 228 de 578 - Communications in Computer and Information Science
- Tapa blanda
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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EUR 68,72
Envío por EUR 9,50Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
Serie: Libro 228 de 578 - Communications in Computer and Information Science
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 68,95
Envío por EUR 13,51Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In English.
Model-Driven Testing : Using the UML Testing Profile
Baker, Paul; Dai, Zhen Ru; Grabowski, Jens; Haugen, Oystein; Schieferdecker, Ina
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 81,12
Envío por EUR 2,36Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
