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Surface and Thin Film Analysis: A Compendium of Principles, Instrumentation, and Applications - Second, Completely Revised and Enlarged Edition
Librería: Bookbot, Prague, Republica Checa
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 41,69
Envío por EUR 20,99
Se envía de Republica Checa a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: As New. Leichte Kratzer / Abnutzungen / Druckstellen. Surveying and comparing all techniques relevant for practical applications, this second edition of a bestseller is a vital guide to this hot topic in nano- and surface technology. Completely revised and updated, sections include electron, ion and photon detection, as well as scanning microscopy, while new chapters have been added to cover such recently developed techniques as SNOM, SERS, and laser ablation. Over 500 references and a list of equipment suppliers make this a rapid reference for materials scientists, analytical chemists, and those working in the biotechnological industry.
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Surface and Thin Film Analysis: A Compendium of Principles, Instrumentation, and Applications (2nd Ed)
Librería: Anybook.com, Lincoln, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 102,42
Envío por EUR 32,21
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Añadir al carritoCondición: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,850grams, ISBN:9783527320479.
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Surface and Thin Film Analysis: A Compendium of Principles, Instrumentation, and Applications (2nd Ed)
Librería: Anybook.com, Lincoln, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 102,42
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Añadir al carritoCondición: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1250grams, ISBN:9783527320479.
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Surface and Thin Film Analysis: A Compendium of Principles, Instrumentation, and Applications
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 169,72
Envío por EUR 13,85
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Surface and Thin Film Analysis : A Compendium of Principles, Instrumentation, and Applications
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 184,54
Envío por EUR 2,27
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Surface and Thin Film Analysis : A Compendium of Principles, Instrumentation, and Applications
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 169,71
Envío por EUR 17,34
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Surface and Thin Film Analysis : A Compendium of Principles, Instrumentation, and Applications
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 189,41
Envío por EUR 2,27
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Surface and Thin Film Analysis : A Compendium of Principles, Instrumentation, and Applications
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 188,98
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Surface and Thin Film Analysis
Idioma: Inglés
Publicado por Wiley-VCH Verlag GmbH, DE, 2011
ISBN 10: 3527320474 ISBN 13: 9783527320479
Librería: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 219,13
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoHardback. Condición: New. Surveying and comparing all techniques relevant for practical applications in surface and thin film analysis, this second edition of a bestseller is a vital guide to this hot topic in nano- and surface technology. This new book has been revised and updated and is divided into four parts - electron, ion, and photon detection, as well as scanning probe microscopy. New chapters have been added to cover such techniques as SNOM, FIM, atom probe (AP),and sum frequency generation (SFG). Appendices with a summary and comparison of techniques and a list of equipment suppliers make this book a rapid reference for materials scientists, analytical chemists, and those working in the biotechnological industry. From a Review of the First Edition (edited by Bubert and Jenett) ". a useful resource." (Journal of the American Chemical Society) 2nd, Completely Revised and Enlarged Edition.
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Surface and Thin Film Analysis
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 185,00
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoGebunden. Condición: New. .a useful resource. Journal of the American Chemical SocietyGernot Friedbacher is Associate Professor of Analytical Chemistry at the Vienna University of Technology. His research activities are focused on investigation of surfaces and surface proc.
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Surface and Thin Film Analysis
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 283,68
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 558.
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Surface and Thin Film Analysis
Idioma: Inglés
Publicado por Wiley-VCH Verlag GmbH, DE, 2011
ISBN 10: 3527320474 ISBN 13: 9783527320479
Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 207,90
Envío por EUR 75,15
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Añadir al carritoHardback. Condición: New. Surveying and comparing all techniques relevant for practical applications in surface and thin film analysis, this second edition of a bestseller is a vital guide to this hot topic in nano- and surface technology. This new book has been revised and updated and is divided into four parts - electron, ion, and photon detection, as well as scanning probe microscopy. New chapters have been added to cover such techniques as SNOM, FIM, atom probe (AP),and sum frequency generation (SFG). Appendices with a summary and comparison of techniques and a list of equipment suppliers make this book a rapid reference for materials scientists, analytical chemists, and those working in the biotechnological industry. From a Review of the First Edition (edited by Bubert and Jenett) ". a useful resource." (Journal of the American Chemical Society) 2nd, Completely Revised and Enlarged Edition.
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Surface and Thin Film Analysis
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 297,47
Envío por EUR 7,51
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 558.
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Surface and Thin Film Analysis
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 173,61
Envío por EUR 7,82
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoHRD. Condición: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
