Franke katrin edt (16 resultados)

Computational Forensics : 4th International Workshop, Iwcf 2010 Tokyo, Japan, November 11-12, 2010, Revised Selected Papers
Sako, Hiroshi (EDT); Franke, Katrin (EDT); Saitoh, Shuji (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 52,27
Envío por EUR 2,30Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.

Computational Forensics : Third International Workshop, IWCF 2009, The Hague, The Netherlands, August 13-14, 2009, Proceedings
Geradts, Zeno J. M. H. (EDT); Franke, Katrin Y. (EDT); Veenman, Cor J. (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 56,22
Envío por EUR 2,30Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.

Computational Forensics : 4th International Workshop, Iwcf 2010 Tokyo, Japan, November 11-12, 2010, Revised Selected Papers
Sako, Hiroshi (EDT); Franke, Katrin (EDT); Saitoh, Shuji (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 61,28
Envío por EUR 2,30Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Computational Forensics : 4th International Workshop, Iwcf 2010 Tokyo, Japan, November 11-12, 2010, Revised Selected Papers
Sako, Hiroshi (EDT); Franke, Katrin (EDT); Saitoh, Shuji (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 60,21
Envío por EUR 17,49Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.

Computational Forensics : Third International Workshop, IWCF 2009, The Hague, The Netherlands, August 13-14, 2009, Proceedings
Geradts, Zeno J. M. H. (EDT); Franke, Katrin Y. (EDT); Veenman, Cor J. (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 60,27
Envío por EUR 17,49Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.

Computational Forensics : 4th International Workshop, Iwcf 2010 Tokyo, Japan, November 11-12, 2010, Revised Selected Papers
Sako, Hiroshi (EDT); Franke, Katrin (EDT); Saitoh, Shuji (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 67,17
Envío por EUR 17,49Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 89,78
Envío por EUR 2,30Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.

- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 103,32
Envío por EUR 2,30Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 87,79
Envío por EUR 17,49Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Condición: New.

Pattern Recognition : 28th Dagm Symposium, Berlin, Germany, September 12-14, 2006: Proceedings
Franke, Katrin (EDT); Müller, Klaus-robert (EDT); Nickolay, Bertram (EDT); Schafer, Ralf (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 115,99
Envío por EUR 2,30Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.

- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 103,86
Envío por EUR 17,49Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Pattern Recognition : 28th Dagm Symposium, Berlin, Germany, September 12-14, 2006: Proceedings
Franke, Katrin (EDT); Müller, Klaus-robert (EDT); Nickolay, Bertram (EDT); Schafer, Ralf (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 123,38
Envío por EUR 2,30Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Pattern Recognition : 28th Dagm Symposium, Berlin, Germany, September 12-14, 2006: Proceedings
Franke, Katrin (EDT); Müller, Klaus-robert (EDT); Nickolay, Bertram (EDT); Schafer, Ralf (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 116,36
Envío por EUR 17,49Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.

Computational Forensics : Third International Workshop, IWCF 2009, The Hague, The Netherlands, August 13-14, 2009, Proceedings
Geradts, Zeno J. M. H. (EDT); Franke, Katrin Y. (EDT); Veenman, Cor J. (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 128,51
Envío por EUR 17,49Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Pattern Recognition : 28th Dagm Symposium, Berlin, Germany, September 12-14, 2006: Proceedings
Franke, Katrin (EDT); Müller, Klaus-robert (EDT); Nickolay, Bertram (EDT); Schafer, Ralf (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 129,61
Envío por EUR 17,49Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Computational Forensics : Third International Workshop, IWCF 2009, The Hague, The Netherlands, August 13-14, 2009, Proceedings
Geradts, Zeno J. M. H. (EDT); Franke, Katrin Y. (EDT); Veenman, Cor J. (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 149,69
Envío por EUR 2,30Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.