Droppo james (13 resultados)
Risk Methodologies for Technological Legacies
Bley, Dennis C. (EDT); Droppo, James G. (EDT); Eremenko, Vitaly A. (EDT); Lundgren, Regina (EDT)
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Risk Methodologies for Technological Legacies
Bley, Dennis C. (EDT); Droppo, James G. (EDT); Eremenko, Vitaly A. (EDT); Lundgren, Regina (EDT)
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Risk Methodologies for Technological Legacies
Bley, Dennis C. (EDT); Eremenko, Vitaly A. (EDT); Droppo, James G.
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Risk Methodologies for Technological Legacies
Bley, Dennis C. (EDT); Droppo, James G. (EDT); Eremenko, Vitaly A. (EDT); Lundgren, Regina (EDT)
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Risk Methodologies for Technological Legacies
Bley, Dennis C. (EDT); Eremenko, Vitaly A. (EDT); Droppo, James G.
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Bley, Dennis C. (EDT); Droppo, James G. (EDT); Eremenko, Vitaly A. (EDT); Lundgren, Regina (EDT)
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Risk Methodologies for Technological Legacies
. Ed(s): Bley, Dennis; Eremenko, Vitaly A.; Droppo, James G.
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Condición: New. Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Bourgas, Bulgaria from 2 to 11 May 2000 Editor(s): Bley, Dennis; Eremenko, Vitaly A.; Droppo, James G. Series: NATO Science Series IV. Num Pages: 366 pages, biography. BIC Classification: GPQD; KJMD; RN. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate,…Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 244 x 170 x 22. Weight in Grams: 1610. . 2003. Hardback. . . . .
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Paperback. Condición: Brand New. 1st edition. 400 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
Risk Methodologies for Technological Legacies
. Ed(s): Bley, Dennis; Eremenko, Vitaly A.; Droppo, James G.
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Condición: New. Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Bourgas, Bulgaria from 2 to 11 May 2000 Editor(s): Bley, Dennis; Eremenko, Vitaly A.; Droppo, James G. Series: NATO Science Series IV. Num Pages: 366 pages, biography. BIC Classification: GPQD; KJMD; RN. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate,…Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 244 x 170 x 22. Weight in Grams: 1610. . 2003. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Bley, Dennis C. (EDT); Eremenko, Vitaly A. (EDT); Droppo, James G.
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Risk Methodologies for Technological Legacies
Bley, Dennis C. (EDT); Eremenko, Vitaly A. (EDT); Droppo, James G.
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Bourgas, Bulgaria from 2 to 11 May 2000 The Cold War Era left the major participants, the United States and the former Soviet Union (FSU), with large legacies in terms… of both contamination and potentia.
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