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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 Proceedings of the Seventh International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (DRIP VII) Held in Templin, Germany, 7-10 September 1997
Publicado por Institute of Physics, 1998
Librería: Peace of Mind Bookstore, Tulsa, OK, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good. Professional book dealer with storefront since 1975. All orders are processed promptly and carefully packaged. ; 524 pages.
