Datta anwitaman edt (12 resultados)
Social Informatics : Third International Conference, Socinfo 2011, Singapore, October 6-8, 2011, Proceedings
Datta, Anwitaman (EDT); Shulman, Stuart (EDT); Zheng, Baihua (EDT); Lin, Shou-de (EDT); Sun, Aixin (EDT)
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Social Informatics : Third International Conference, Socinfo 2011, Singapore, October 6-8, 2011, Proceedings
Datta, Anwitaman (EDT); Shulman, Stuart (EDT); Zheng, Baihua (EDT); Lin, Shou-de (EDT); Sun, Aixin (EDT)
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Idioma: Inglés
Editorial: Routledge, 2020
Serie: Libro 8 de 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Idioma: Inglés
Editorial: Routledge, 2020
Serie: Libro 8 de 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Idioma: Inglés
Editorial: Routledge, 2020
Serie: Libro 8 de 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Social Informatics : Third International Conference, Socinfo 2011, Singapore, October 6-8, 2011, Proceedings
Datta, Anwitaman (EDT); Shulman, Stuart (EDT); Zheng, Baihua (EDT); Lin, Shou-de (EDT); Sun, Aixin (EDT)
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Idioma: Inglés
Editorial: Routledge, 2020
Serie: Libro 8 de 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
- Tapa blanda
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Social Informatics : Third International Conference, Socinfo 2011, Singapore, October 6-8, 2011, Proceedings
Datta, Anwitaman (EDT); Shulman, Stuart (EDT); Zheng, Baihua (EDT); Lin, Shou-de (EDT); Sun, Aixin (EDT)
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2014
Serie: Libro 8 de 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
- Tapa dura
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Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2014
Serie: Libro 8 de 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
- Tapa dura
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2014
Serie: Libro 8 de 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2014
Serie: Libro 8 de 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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