Bashir m al hashimi u a (2 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer US, 2003
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
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Envío por EUR 70,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Buch. Condición: Neu. Power-Constrained Testing of VLSI Circuits | A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard | Bashir M. Al-Hashimi (u. a.) | Buch | xi | Englisch | 2003 | Springer US | EAN 9781402072352 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springe…r[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
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Editorial: Springer US, 2010
- Tapa blanda
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Taschenbuch. Condición: Neu. Power-Constrained Testing of VLSI Circuits | A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard | Bashir M. Al-Hashimi (u. a.) | Taschenbuch | Frontiers in Electronic Testing | xi | Englisch | 2010 | Springer US | EAN 9781441953155 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 6…9121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
