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Essential Spectrum-based Fault Localization
Librería: Bookmonger.Ltd, HILLSIDE, NJ, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 45,70
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Nanoscale Thermoelectric Materials: Thermal and Electrical Transport, and Applications to Solid-State Cooling and Power Generation: Volume 1543 (MRS Proceedings)
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2013
ISBN 10: 1605115207 ISBN 13: 9781605115207
Librería: Labyrinth Books, Princeton, NJ, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 48,05
Envío por EUR 3,82
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: Very Good.
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Nanoscale Thermoelectric Materials: Thermal and Electrical Transport, and Applications to Solid-State Cooling and Power Generation: Volume 1543 (MRS Proceedings)
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2013
ISBN 10: 1605115207 ISBN 13: 9781605115207
Librería: AMM Books, Gillingham, KENT, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 40,75
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good. In stock ready to dispatch from the UK.
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Nanoscale Thermoelectric Materials: Thermal and Electrical Transport, and Applications to Solid-State Cooling and Power Generation
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2013
ISBN 10: 1605115207 ISBN 13: 9781605115207
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 68,53
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Añadir al carritoCondición: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Nanoscale Thermoelectric Materials
Idioma: Inglés
Publicado por Materials Research Society, 2013
ISBN 10: 1605115207 ISBN 13: 9781605115207
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 85,91
Envío por EUR 3,39
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 191.
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Nanoscale Thermoelectric Materials
Idioma: Inglés
Publicado por Materials Research Society, 2013
ISBN 10: 1605115207 ISBN 13: 9781605115207
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 85,22
Envío por EUR 7,52
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 191 94 Illus.
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Essential Spectrum-based Fault Localization
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 91,99
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Essential Spectrum-based Fault Localization
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 94,31
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Nanoscale Thermoelectric Materials: Thermal and Electrical Transport, and Applications to Solid-State Cooling and Power Generation: Volume 1543 (MRS Proceedings)
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2013
ISBN 10: 1605115207 ISBN 13: 9781605115207
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 97,00
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Essential Spectrum-based Fault Localization
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 103,41
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
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Essential Spectrum-based Fault Localization
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 92,33
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Essential Spectrum-based Fault Localization
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 100,91
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Nanoscale Thermoelectric Materials: Thermal and Electrical Transport, and Applications to Solid-State Cooling and Power Generation: Volume 1543 (MRS Proceedings)
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2013
ISBN 10: 1605115207 ISBN 13: 9781605115207
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 89,33
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Nanoscale Thermoelectric Materials: Thermal and Electrical Transport, and Applications to Solid-State Cooling and Power Generation
Idioma: Inglés
Publicado por Materials Research Society, 2013
ISBN 10: 1605115207 ISBN 13: 9781605115207
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 105,53
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Añadir al carritoCondición: New. Symposium H, I, and V were held at the Material Research Society Spring 2013 meeting, April 1-5, 2013. Editor(s): Beckman, Scott P.; Bottner, Harald; Chopin, Yann; Dames, Christopher; Greaney, P. Alex; Hopkins, Patrick; Li, Baowen; Mari, Tako; Nishimatsu, Takeshi; Venkatasubramanian, Rama. Series: MRS Proceedings. Num Pages: 191 pages, 94 b/w illus. 11 tables. BIC Classification: TGM. Category: (U) Tertiary Education (US: College). Dimension: 228 x 152 x 16. Weight in Grams: 420. . 2013. Hardback. . . . .
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Essential Spectrum-based Fault Localization
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 117,67
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Essential Spectrum-based Fault Localization
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 106,13
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Essential Spectrum-based Fault Localization
Idioma: Inglés
Publicado por Springer Verlag, Singapore, SG, 2022
ISBN 10: 9813361816 ISBN 13: 9789813361812
Librería: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 124,94
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: New. 2021 ed.
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Essential Spectrum-based Fault Localization
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 114,52
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Añadir al carritoCondición: New. In.
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Essential Spectrum-based Fault Localization
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 114,51
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Essential Spectrum-based Fault Localization
Idioma: Inglés
Publicado por Springer-Nature New York Inc, 2022
ISBN 10: 9813361816 ISBN 13: 9789813361812
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 117,93
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Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 9.25x6.10 inches. In Stock.
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Essential Spectrum-based Fault Localization
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 129,93
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Añadir al carritoCondición: New.
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Nanoscale Thermoelectric Materials: Thermal and Electrical Transport, and Applications to Solid-state Cooling and Power Generation: Volume 1543
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 127,21
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 191 pages. 9.50x6.50x0.75 inches. In Stock.
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Nanoscale Thermoelectric Materials: Thermal and Electrical Transport, and Applications to Solid-State Cooling and Power Generation
Idioma: Inglés
Publicado por Materials Research Society, 2013
ISBN 10: 1605115207 ISBN 13: 9781605115207
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 129,88
Envío por EUR 8,91
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Symposium H, I, and V were held at the Material Research Society Spring 2013 meeting, April 1-5, 2013. Editor(s): Beckman, Scott P.; Bottner, Harald; Chopin, Yann; Dames, Christopher; Greaney, P. Alex; Hopkins, Patrick; Li, Baowen; Mari, Tako; Nishimatsu, Takeshi; Venkatasubramanian, Rama. Series: MRS Proceedings. Num Pages: 191 pages, 94 b/w illus. 11 tables. BIC Classification: TGM. Category: (U) Tertiary Education (US: College). Dimension: 228 x 152 x 16. Weight in Grams: 420. . 2013. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Essential Spectrum-based Fault Localization
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 123,80
Envío por EUR 17,35
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Essential Spectrum-based Fault Localization
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 142,16
Envío por EUR 3,39
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. 1st ed. 2021 edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Intelligent Software Defect Prediction
Librería: Books From California, Simi Valley, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 155,05
Envío por EUR 4,23
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritohardcover. Condición: Very Good.
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Essential Spectrum-based Fault Localization
Idioma: Inglés
Publicado por Springer, Berlin|Springer Nature Singapore|Springer, 2022
ISBN 10: 9813361816 ISBN 13: 9789813361812
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 106,22
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Program debugging has always been a difficult and time-consuming task in the context of software development, where spectrum-based fault localization (SBFL) is one of the most widely studied families of techniques. While it s not particularly difficult t.
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Essential Spectrum-based Fault Localization
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 150,38
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 184 pages. 9.25x6.10x0.55 inches. In Stock.
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Essential Spectrum-based Fault Localization
Idioma: Inglés
Publicado por Springer Nature Singapore, Springer Nature Singapore, 2021
ISBN 10: 9813361786 ISBN 13: 9789813361782
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 111,35
Envío por EUR 62,24
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Program debugging has always been a difficult and time-consuming task in the context of software development, where spectrum-based fault localization (SBFL) is one of the most widely studied families of techniques. While it's not particularly difficult to learn about the process and empirical performance of a particular SBFL technique from the available literature, researchers and practitioners aren't always familiar with the underlying theories.This book provides the first comprehensive guide to fundamental theories in SBFL, while also addressing some emerging challenges in this area. The theoretical framework introduced here reveals the intrinsic relations between various risk evaluation formulas, making it possible to construct a formula performance hierarchy. Further extensions of the framework provide a sufficient and necessary condition for a general maximal formula, as well as performance comparisons for hybrid SBFL methods. With regard to emerging challenges in SBFL, the book mainly covers the frequently encountered oracle problem in SBFL and introduces a metamorphic slice-based solution. In addition, it discusses the challenge of multiple-fault localization and presents cutting-edge approaches to overcoming it.SBFL is a widely studied research area with a massive amount of publications. Thus, it is essential that the software engineering community, especially those involved in program debugging, software maintenance and software quality assurance (including both newcomers and researchers who want to gain deeper insights) understand the most fundamental theories - which could also be very helpful to ensuring the healthy development of the field.
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Essential Spectrum-based Fault Localization
Idioma: Inglés
Publicado por Springer Nature Singapore, Springer Nature Singapore, 2022
ISBN 10: 9813361816 ISBN 13: 9789813361812
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 113,84
Envío por EUR 61,45
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Program debugging has always been a difficult and time-consuming task in the context of software development, where spectrum-based fault localization (SBFL) is one of the most widely studied families of techniques. While it's not particularly difficult to learn about the process and empirical performance of a particular SBFL technique from the available literature, researchers and practitioners aren't always familiar with the underlying theories.This book provides the first comprehensive guide to fundamental theories in SBFL, while also addressing some emerging challenges in this area. The theoretical framework introduced here reveals the intrinsic relations between various risk evaluation formulas, making it possible to construct a formula performance hierarchy. Further extensions of the framework provide a sufficient and necessary condition for a general maximal formula, as well as performance comparisons for hybrid SBFL methods. With regard to emerging challenges in SBFL, the book mainly covers the frequently encountered oracle problem in SBFL and introduces a metamorphic slice-based solution. In addition, it discusses the challenge of multiple-fault localization and presents cutting-edge approaches to overcoming it.SBFL is a widely studied research area with a massive amount of publications. Thus, it is essential that the software engineering community, especially those involved in program debugging, software maintenance and software quality assurance (including both newcomers and researchers who want to gain deeper insights) understand the most fundamental theories - which could also be very helpful to ensuring the healthy development of the field.
