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Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits (Artech House Integrated Microsystems)
Publicado por Artech House Publishers, 2010
ISBN 10: 1596939893 ISBN 13: 9781596939899
Idioma: Inglés
Librería: BOOKWEST, Phoenix, AZ, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 53,23
Convertir monedaEUR 4,30 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Edición internacionalWafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits
Librería: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 169,76
Convertir monedaGratis gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
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Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits (Integrated Mircosystems)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 163,49
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