T�tulo: Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits (Artech House Integrated Microsystems)
Editor: Artech House Publishers
Fecha de publicaci�n: 2010
Idioma: Ingl�s
ISBN 10: 1596939893
ISBN 13: 9781596939899
Encuadernaci�n: Hardcover
Estado: New
Peso: 1 libra

Acerca de

Sinopsis

Wafer-level testing refers to a critical process of subjecting integrated circuits and semiconductor devices to electrical testing while they are still in wafer form. Burn-in is a temperature/bias reliability stress test used in detecting and screening out potential early life device failures. This hands-on resource provides a comprehensive analysis of these methods, showing how wafer-level testing during burn-in (WLTBI) helps lower product cost in semiconductor manufacturing. Engineers learn how to implement the testing of integrated circuits at the wafer-level under various resource constraints. Moreover, this unique book helps practitioners address the issue of enabling next generation products with previous generation testers. Practitioners also find expert insights on current industry trends in WLTBI test solutions.

Acerca del autor

Charlotte y Peter Fiell son dos autoridades en historia, teor�a y cr�tica del dise�o y han escrito m�s de sesenta libros sobre la materia, muchos de los cuales se han convertido en �xitos de ventas. Tambi�n han impartido conferencias y cursos como profesores invitados, han comisariado exposiciones y asesorado a fabricantes, museos, salas de subastas y grandes coleccionistas privados de todo el mundo. Los Fiell han escrito numerosos libros para TASCHEN, entre los que se incluyen 1000 Chairs, Dise�o del siglo XX, El dise�o industrial de la A a la Z, Scandinavian Design y Dise�o del siglo XXI.

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