Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
Cheng, Kwang-Ting; Agrawal, Vishwani D.
ISBN 10: 0792390253 ISBN 13: 9780792390251
Editorial: Kluwer Academic Publishers, 1989
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Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 148 pages, biography. BIC Classification: TJF. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 410. . 1989. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland. N° de ref. del artículo V9780792390251
Sinopsis:
Book by KwangTing Tim Cheng Agrawal Vishwani D
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Detalles bibliográficos
Título: Unified Methods for VLSI Simulation and Test...
Editorial: Kluwer Academic Publishers
Año de publicación: 1989
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 73)
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Buch. Condición: Neu. Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation | Vishwani D. Agrawal (u. a.) | Buch | xii | Englisch | 1989 | Springer US | EAN 9780792390251 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand. Nº de ref. del artículo: 102435967
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Springer US, Springer US Jun 1989, 1989
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