Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation: 73 (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 73) - Tapa dura
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Book by KwangTing Tim Cheng Agrawal Vishwani D
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 73)
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation:
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Boston. Kluwer Academic, 1989
ISBN 10: 0792390253
ISBN 13: 9780792390251
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Buch. Condición: Neu. Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation | Kwang-Ting Cheng (u. a.) | Buch | xii | Englisch | 1989 | Springer | EAN 9780792390251 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand. Nº de ref. del artículo: 102435967
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
Publicado por
Springer, Springer Jun 1989, 1989
ISBN 10: 0792390253
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