System-On-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testabilityvolume .

Idioma: inglés

Editorial: Elsevier Science, 2008

012373973X / 9780123739735

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Emphasizes VLSI Test principles and Design for Testability architectures, with numerous illustrations/examples. Most up-to-date coverage available, including Fault Tolerance, Low-Power Testing, Defect and Error Tolerance, Network-on-Chip (.

N° de ref. del artículo 594356945

Título
System-On-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testabilityvolume .
Autor
Laung-Terng Wang|Charles E. Stroud|Nur A. Touba
Editorial
Elsevier Science
Año de publicación
2008
Estado
New
Encuadernación
Encuadernación de tapa dura
Idioma
inglés
ISBN 10
012373973X
ISBN 13
9780123739735

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