Spatial Point Patterns

Idioma: inglés

Editorial: Taylor and Francis Inc, US, 2015

1482210207 / 9781482210200

Serie: Libro 1 de 1 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics

Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino UnidoRarewaves.com UK

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de AbeBooks desde 11 de junio de 2025

Ver los artículos de este vendedor
Tapa dura

Condición: Nuevo

EUR 234,29

Envío por EUR 75,85 
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: Más de 20 disponibles

Añadir al carrito
Devoluciones gratuitas de 30 días

Descripción del artículo del vendedor

Modern Statistical Methodology and Software for Analyzing Spatial Point PatternsSpatial Point Patterns: Methodology and Applications with R shows scientific researchers and applied statisticians from a wide range of fields how to analyze their spatial point pattern data. Making the techniques accessible to non-mathematicians, the authors draw on their 25 years of software development experiences, methodological research, and broad scientific collaborations to deliver a book that clearly and succinctly explains concepts and addresses real scientific questions.Practical Advice on Data Analysis and Guidance on the Validity and Applicability of MethodsThe first part of the book gives an introduction to R software, advice about collecting data, information about handling and manipulating data, and an accessible introduction to the basic concepts of point processes. The second part presents tools for exploratory data analysis, including non-parametric estimation of intensity, correlation, and spacing properties. The third part discusses model-fitting and statistical inference for point patterns. The final part describes point patterns with additional "structure," such as complicated marks, space-time observations, three- and higher-dimensional spaces, replicated observations, and point patterns constrained to a network of lines.Easily Analyze Your Own DataThroughout the book, the authors use their spatstat package, which is free, open-source code written in the R language. This package provides a wide range of capabilities for spatial point pattern data, from basic data handling to advanced analytic tools. The book focuses on practical needs from the user's perspective, offering answers to the most frequently asked questions in each chapter.

N° de ref. del artículo LU-9781482210200

Título
Spatial Point Patterns
Autor
Adrian Baddeley, Ege Rubak, Rolf Turner
Editorial
Taylor and Francis Inc, US
Año de publicación
2015
Estado
New
Encuadernación
Hardback
Idioma
inglés
ISBN 10
1482210207
ISBN 13
9781482210200
Peso del artículo
1640 gramos
Serie
Libro 1 de 1: Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics

Rarewaves.com UK

London, Reino Unido

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de AbeBooks desde 11 de junio de 2025

Tarifas de envío de Reino Unido a Estados Unidos de America

ArtículoDe 60 a 60 días hábilesDe 60 a 60 días hábiles
Primer artículoEUR 75,85EUR 116,68
Los plazos de entrega los establecen los vendedores y varían según el transportista y la ubicación. Los pedidos que pasan por la aduana pueden sufrir retrasos y los compradores son responsables de los aranceles o tarifas asociadas. Los vendedores pueden ponerse en contacto con usted en relación con cargos adicionales para cubrir cualquier aumento en los costes de envío de los artículos.

Métodos de pago

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay

Información empresarial del vendedor

RAREWAVES.COM LIMITED

Elsley Court, 20-22 Great Titchfield Street
London, Reino Unido W1W 8BE