Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy

Idioma: inglés

Editorial: John Wiley & Sons Inc, 2000

047149240X / 9780471492405

Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de AbeBooks desde 6 de enero de 2003

Ver los artículos de este vendedor
Tapa dura

Condición: Nuevo

EUR 300,72

Envío por EUR 11,66 
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 2 disponibles

Añadir al carrito
Devoluciones gratuitas de 30 días

Descripción del artículo del vendedor

1st edition. 269 pages. 9.25x6.25x1.00 inches. In Stock. This item is printed on demand.

N° de ref. del artículo __047149240X

Título
Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy
Autor
Wai Kin Chim
Editorial
John Wiley & Sons Inc
Año de publicación
2000
Estado
Brand New
Encuadernación
Hardcover
Idioma
inglés
ISBN 10
047149240X
ISBN 13
9780471492405
Peso del artículo
0,49 kilogramos

Revaluation Books

Exeter, Reino Unido

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de AbeBooks desde 6 de enero de 2003

Tarifas de envío de Reino Unido a Estados Unidos de America

ArtículoDe 7 a 14 días hábilesDe 2 a 3 días hábiles
Primer artículoEUR 11,66EUR 29,15
Los plazos de entrega los establecen los vendedores y varían según el transportista y la ubicación. Los pedidos que pasan por la aduana pueden sufrir retrasos y los compradores son responsables de los aranceles o tarifas asociadas. Los vendedores pueden ponerse en contacto con usted en relación con cargos adicionales para cubrir cualquier aumento en los costes de envío de los artículos.

Métodos de pago

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay

Información empresarial del vendedor

Edward Bowditch Ltd

Exstowe, Exton
Exeter, Reino Unido EX3 0PP