Semiconductor Device and Failure Analysis Using Photon Emmission Microscopy: Using Photon Emission Microscopy (Quality and Reliability Engineering Series)

Idioma: inglés

Editorial: Wiley, 2000

047149240X / 9780471492405

Librería: Buchmarie, Darmstadt, AlemaniaBuchmarie

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Título
Semiconductor Device and Failure Analysis Using Photon Emmission Microscopy: Using Photon Emission Microscopy (Quality and Reliability Engineering Series)
Autor
Chim, Wai Kin
Editorial
Wiley
Año de publicación
2000
Estado
Good
Encuadernación
Encuadernación de tapa dura
Idioma
inglés
ISBN 10
047149240X
ISBN 13
9780471492405

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