Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis : Third Edition

Newbury, Dale E., Echlin, Patrick, Goldstein, Joseph, Joy, David C., Lyman, Charles E.

ISBN 10: 1461349699 ISBN 13: 9781461349693
Editorial: Springer, 2013
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Bueno Encuadernación de tapa blanda

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