Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Joseph Goldstein

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Idioma: inglés

Editorial: Springer US Mai 2013, 2013

1461349699 / 9781461349693

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The authors emphasize the practical aspects of the techniques described. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis. Separate chapters cover SEM sample preparation methods for hard materials, polymers, and biological specimens. In addition techniques for the elimination of charging in non-conducting specimens are detailed. 720 pp. Englisch.

N° de ref. del artículo 9781461349693

Título
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Autor
Joseph Goldstein
Editorial
Springer US Mai 2013
Año de publicación
2013
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
1461349699
ISBN 13
9781461349693
Edición
3ª Edición
Peso del artículo
1330 gramos
Dimensiones
254x178x39 mm

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