Research for Practical Issues and Solutions in Computerized Multistage Testing

Yan, Duanli (EDT); Von Davier, Alina (EDT); Weiss, David (EDT)

ISBN 10: 036720780X ISBN 13: 9780367207809
Editorial: Routledge, 2024
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

Vendido por GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America

Vendedor de AbeBooks desde 6 de abril de 2009

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Ver los artículos de este vendedor


Nuevos - Encuadernación de tapa dura

Condición: Nuevo

Precio:
EUR 191,80
Envío por EUR 2,27
Se envía dentro de Estados Unidos de America

Cantidad disponible: Más de 20 disponibles

Añadir al carrito