Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices

Idioma: inglés

Editorial: Elsevier Inc Okt 2016, 2016

1785481525 / 9781785481529

Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The rapid growth of the use of optoelectronic technology in Information and Communications Technology (ICT) has seen a complementary increase in the performance of such technologies. As a result, optoelectronic technologies have replaced the technology of electronic interconnections. However, the control of manufacturing techniques for optoelectronic systems is more delicate than that of microelectronic technologies.This practical resource, divided into four chapters, examines several methods for determining the reliability of infrared LED devices. The primary interest of this book focuses on methods of extracting fundamental parameters from the electrical and optical characterization of specific zones in components. Failure mechanisms are identified based on measured performance before and after aging tests. Knowledge of failure mechanisms allows formulation of degradation laws, which in turn allow an accurate lifetime distribution for specific devices to be proposed. 172 pp. Englisch.…

N° de ref. del artículo 9781785481529

Título
Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices
Autor
Laurent Béchou
Editorial
Elsevier Inc Okt 2016
Año de publicación
2016
Estado
Neu
Encuadernación
Buch
Idioma
inglés
ISBN 10
1785481525
ISBN 13
9781785481529
Peso del artículo
426 gramos
Dimensiones
229x152x14 mm

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