Reliability Prediction for Microelectronics

Idioma: inglés

Editorial: John Wiley & Sons, 2024

1394210930 / 9781394210930

Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de IberLibro desde 9 de julio de 2020

Tapa dura

Condición: Nuevo

EUR 127,13

Envío por EUR 48,99 
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: Más de 20 disponibles

Añadir al carrito
Devoluciones gratuitas de 30 días

Descripción del artículo del vendedor

JOSEPH B. BERNSTEIN, PHD, is Director of the Laboratory for Failure Analysis and Reliability of Electronic Systems at Ariel University, Israel. He has worked and published extensively on failure analysis and defect avoidance in microelectronics, and is a se.

N° de ref. del artículo 852869146

Título
Reliability Prediction for Microelectronics
Autor
JB Bernstein
Editorial
John Wiley & Sons
Año de publicación
2024
Estado
New
Encuadernación
Encuadernación de tapa dura
Idioma
inglés
ISBN 10
1394210930
ISBN 13
9781394210930

moluna

Greven, Alemania

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de IberLibro desde 9 de julio de 2020

Tarifas de envío de Alemania a Estados Unidos de America

ArtículoDe 26 a 60 días hábilesDe 26 a 60 días hábiles
Primer artículoEUR 48,99EUR 48,99
Los plazos de entrega los establecen los vendedores y varían según el transportista y la ubicación. Los pedidos que pasan por la aduana pueden sufrir retrasos y los compradores son responsables de los aranceles o tarifas asociadas. Los vendedores pueden ponerse en contacto con usted en relación con cargos adicionales para cubrir cualquier aumento en los costes de envío de los artículos.

Métodos de pago

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay
  • Cheque
  • Giro bancario
  • PayPal

Descripción de la tienda

Online Handel nur mit Neubüchern

Información empresarial del vendedor

Moluna GmbH

Engberdingdamm 27
Greven, Alemania 48268