Particle Characterization in Technology, Vol. 2: Morphological Analysis

Beddow, John Keith

ISBN 10: 0849357853 ISBN 13: 9780849357855
Editorial: CRC Press, 1984
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

Vendido por SHIMEDIA, Brooklyn, NY, Estados Unidos de America

Vendedor de AbeBooks desde 30 de junio de 2024

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Ver los artículos de este vendedor


Nuevos - Encuadernación de tapa dura

Condición: Nuevo

Precio:
EUR 88,37
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 1 disponibles

Añadir al carrito