New Approaches to Image Processing Based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices

Idioma: inglés

Editorial: Elsevier Science Nov 2013, 2013

0323241433 / 9780323241434

Serie: Libro 55 de 393 - Micro and Nano Technologies

  • Tapa blanda
  • Nuevo
Ver todos los detalles

Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de AbeBooks desde 11 de enero de 2012

Ver los artículos de este vendedor
Tapa blanda

Condición: Nuevo

EUR 38,95

Envío por EUR 23,00 
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 2 disponibles

Añadir al carrito
Devoluciones gratuitas de 30 días

Descripción del artículo del vendedor

This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -New Approaches to Image Processing Based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices introduces the reader to transmission and scanning microscope image processing for metal and non-metallic microstructures. Engineers and scientists face the pressing problem in ULSI development and quality assurance: microscopy methods can't keep pace with the continuous shrinking of feature size in microelectronics. Nanometer scale sizes are below the resolution of light, and imaging these features is nearly impossible even with electron microscopes, due to image noise. This book presents novel 'smart' image processing methods, applications, and case studies concerning quality improvement of microscope images of microelectronic chips and process optimization. It explains an approach for high-resolution imaging of advanced metallization for micro- and nanoelectronics. This approach obviates the time-consuming preparation and selection of microscope measurement and sample conditions, enabling not only better electron-microscopic resolution, but also more efficient testing and quality control. This in turn leads to productivity gains in design and development of nano-scale ULSI chips. The authors also present several approaches for super-resolving low-resolution images to improve failure analysis of microelectronic chips. 110 pp. Englisch.

N° de ref. del artículo 9780323241434

Título
New Approaches to Image Processing Based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices
Autor
Zeev Zalevsky
Editorial
Elsevier Science Nov 2013
Año de publicación
2013
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
0323241433
ISBN 13
9780323241434
Peso del artículo
198 gramos
Dimensiones
228x151x10 mm
Serie
Libro 55 de 393: Micro and Nano Technologies

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

Bergisch Gladbach, Alemania

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de AbeBooks desde 11 de enero de 2012

Tarifas de envío de Alemania a Estados Unidos de America

ArtículoDe 5 a 15 días hábilesDe 5 a 15 días hábiles
Primer artículoEUR 23,00EUR 23,00
Los plazos de entrega los establecen los vendedores y varían según el transportista y la ubicación. Los pedidos que pasan por la aduana pueden sufrir retrasos y los compradores son responsables de los aranceles o tarifas asociadas. Los vendedores pueden ponerse en contacto con usted en relación con cargos adicionales para cubrir cualquier aumento en los costes de envío de los artículos.

Métodos de pago

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay
  • Cheque
  • Giro bancario
  • PayPal

Información empresarial del vendedor

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

Alemania