Multi-Chip Module Test Strategies

Libro 2 de 40: Frontiers in Electronic Testing

Zorian, Yervant (EDT)

ISBN 10: 079239920X ISBN 13: 9780792399209
Editorial: Springer, 1997
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

Vendido por GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America

Vendedor de AbeBooks desde 6 de abril de 2009

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Ver los artículos de este vendedor


Nuevos - Encuadernación de tapa dura

Condición: Nuevo

Precio:
EUR 130,67
Envío por EUR 2,28
Se envía dentro de Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 15 disponibles

Añadir al carrito