Microscopic Identification of Electronic Defects in Semiconductors (Materials Research Society Symposia Proceedings, Volume 46)

Johnson, Noble M., Stephen G. Bishop, and George D. Watkins, editors

ISBN 10: 0931837111 ISBN 13: 9780931837111
Editorial: Materials Research Society, 1985
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Aceptable Encuadernación de tapa dura

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