Microscopic Identification of Electronic Defects in Semiconductors: Symposium Held April 15-18, 1985, San Francisco, California, U.S.A (Materials) - Tapa dura
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Microscopic Identification of Electronic Defects in Semiconductors: Symposium Held April 15-18, 1985, San Francisco, California, U.S.A (Materials)
Publicado por
Materials Research Society, 1985
ISBN 10: 0931837111
ISBN 13: 9780931837111
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Tapa dura
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Microscopic Identification of Electronic Defects in Semiconductors (Materials Research Society Symposia Proceedings, Volume 46)
Publicado por
Materials Research Society, 1985
ISBN 10: 0931837111
ISBN 13: 9780931837111
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Hardcover. Condición: UsedGood. Hardcover; symposium held April 15-18, 1985, in San Francisco; fading and shelf wear to exterior; binding slightly cocked; scrape to side edge of front cover; note written on table of contents page, otherwise text is clean; former owner's stamping inside rear board; contents in good condition. Nº de ref. del artículo: 64117
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