Microscopic Identification of Electronic Defects in Semiconductors (Materia Ls Research Society Symposia Proceedings, Volume 46)

Idioma: inglés

Editorial: Materials Research Society, 1985

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Detalles bibliográficos

Título
Microscopic Identification of Electronic Defects in Semiconductors (Materia Ls Research Society Symposia Proceedings, Volume 46)
Autor
Johnson, Noble M., Stephen G. Bishop, And George D. Watkins, Editors
Editorial
Materials Research Society
Año de publicación
1985
Estado
UsedGood
Encuadernación
Hardcover
Idioma
inglés
ISBN 10
0931837111
ISBN 13
9780931837111

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