Microelectronic Test Structures for CMOS Technology

Idioma: inglés

Editorial: Springer New York, 2011

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N° de ref. del artículo 4176664

Título
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology
Autor
Manjul Bhushan|Mark B. Ketchen
Editorial
Springer New York
Año de publicación
2011
Estado
New
Encuadernación
Gebunden
Idioma
inglés
ISBN 10
1441993762
ISBN 13
9781441993762

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