Microelectronic Test Structures for CMOS Technology - Tapa dura

Bhushan, Manjul; Ketchen, Mark B.

 
9781441993762: Microelectronic Test Structures for CMOS Technology

Sinopsis

Introduction.- Test Structure Basics.- Resistors.- Capacitors.- MOSFETs.- Ring Oscillators.- High Speed Characterization.- Test Structures of SOI Technology.- Test Equipment and Measurements.- Data Analysis.

"Sinopsis" puede pertenecer a otra edición de este libro.

Acerca del autor

Charlotte y Peter Fiell son dos autoridades en historia, teoría y crítica del diseño y han escrito más de sesenta libros sobre la materia, muchos de los cuales se han convertido en éxitos de ventas. También han impartido conferencias y cursos como profesores invitados, han comisariado exposiciones y asesorado a fabricantes, museos, salas de subastas y grandes coleccionistas privados de todo el mundo. Los Fiell han escrito numerosos libros para TASCHEN, entre los que se incluyen 1000 Chairs, Diseño del siglo XX, El diseño industrial de la A a la Z, Scandinavian Design y Diseño del siglo XXI.

De la contraportada

Microelectronic Test Structures for CMOS Technology and Products addresses the basic concepts of the design of test structures for incorporation within test-vehicles, scribe-lines, and CMOS products. The role of test structures in the development and monitoring of CMOS technologies and products has become ever more important with the increased cost and complexity of development and manufacturing. In this timely volume, IBM scientists Manjul Bhushan and Mark Ketchen emphasize high speed characterization techniques for digital CMOS circuit applications and bridging between circuit performance and characteristics of MOSFETs and other circuit elements. Detailed examples are presented throughout, many of which are equally applicable to other microelectronic technologies as well. The authors overarching goal is to provide students and technology practitioners alike a practical guide to the disciplined design and use of test structures that give unambiguous information on the parametrics and performance of digital CMOS technology.

"Sobre este título" puede pertenecer a otra edición de este libro.

Otras ediciones populares con el mismo título

9781489990556: Microelectronic Test Structures for CMOS Technology

Edición Destacada

ISBN 10:  1489990550 ISBN 13:  9781489990556
Editorial: Springer, 2014
Tapa blanda