Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications

Idioma: inglés

Editorial: Springer Verlag, 2010

3642064531 / 9783642064531

Serie: Libro 3 de 233 - Springer Series in Materials Science

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Título
Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications
Autor
Rein, Stefan
Editorial
Springer Verlag
Año de publicación
2010
Estado
Brand New
Encuadernación
Paperback
Idioma
inglés
ISBN 10
3642064531
ISBN 13
9783642064531
Peso del artículo
0,88 kilogramos
Serie
Libro 3 de 233: Springer Series in Materials Science

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