Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
Erik Larsson
ISBN 10: 1402032072 ISBN 13: 9781402032073
Editorial: Copernicus, 2005
Nuevos
Buch
Librería:
preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Vendedor de AbeBooks desde 5 de agosto de 2024
Este artículo en concreto ya no está disponible.
Descripción
Descripción:
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization | Erik Larsson | Buch | xx | Englisch | 2005 | Copernicus | EAN 9781402032073 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand. N° de ref. del artículo 102371840
Sinopsis:
SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. It gives an introduction to testing, describes the problems related to SOC testing, discusses the modeling granularity and the implementation into EDA (electronic design automation) tools. The book is divided into three sections: i) test concepts, ii) SOC design for test, and iii) SOC test applications. The first part covers an introduction into test problems including faults, fault types, design-flow, design-for-test techniques such as scan-testing and Boundary Scan. The second part of the book discusses SOC related problems such as system modeling, test conflicts, power consumption, test access mechanism design, test scheduling and defect-oriented scheduling. Finally, the third part focuses on SOC applications, such as integrated test scheduling and TAM design, defect-oriented scheduling, and integrating test design with the core selection process.
Acerca del autor: Dr. Erik Larsson is an assistant professor at Linköpings University in Sweden, and he is an active member of the IEEE Testing and Circuits & Systems societies
"Sobre este título" puede pertenecer a otra edición de este libro.
Detalles bibliográficos
Título: Introduction to Advanced System-on-Chip Test...
Editorial: Copernicus
Año de publicación: 2005
Encuadernación: Buch
Condición: Neu
Los mejores resultados en AbeBooks
Imagen del vendedor
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization.
Librería: books4less (Versandantiquariat Petra Gros GmbH & Co. KG), Welling, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
gebundene Ausgabe. Condición: Gut. 388 Seiten; Das hier angebotene Buch stammt aus einer teilaufgelösten wissenschaftlichen Bibliothek und trägt die entsprechenden Kennzeichnungen (Rückenschild, Instituts-Stempel.); Schnitt und Einband sind etwas staubschmutzig; der Buchzustand ist ansonsten ordentlich und dem Alter entsprechend gut. Text in ENGLISCHER Sprache! Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 860. Nº de ref. del artículo: 1593690
Comprar usado
EUR 23,95
Envío por EUR 15,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen del vendedor
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
Impresión bajo demandaLibrería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Gebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. System perspective to SOC test design. Overview of test problems and their modelingTest scheduling overview, extensive reference list Applicable for Master students and PhD-students working in the test field. Could also be good for research. Nº de ref. del artículo: 4093246
Comprar nuevo
EUR 136,16
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: Más de 20 disponibles
Imagen del vendedor
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
Impresión bajo demandaLibrería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. It gives an introduction to testing, describes the problems related to SOC testing, discusses the modeling granularity and the implementation into EDA (electronic design automation) tools. The book is divided into three sections: i) test concepts, ii) SOC design for test, and iii) SOC test applications. The first part covers an introduction into test problems including faults, fault types, design-flow, design-for-test techniques such as scan-testing and Boundary Scan. The second part of the book discusses SOC related problems such as system modeling, test conflicts, power consumption, test access mechanism design, test scheduling and defect-oriented scheduling. Finally, the third part focuses on SOC applications, such as integrated test scheduling and TAM design, defect-oriented scheduling, and integrating test design with the core selection process. 408 pp. Englisch. Nº de ref. del artículo: 9781402032073
Comprar nuevo
EUR 160,49
Envío por EUR 23,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 2 disponibles
Imagen del vendedor
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
Publicado por
Springer US, Copernicus Nov 2005, 2005
ISBN 10: 1402032072
ISBN 13: 9781402032073
Nuevo
Tapa dura
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. It gives an introduction to testing, describes the problems related to SOC testing, discusses the modeling granularity and the implementation into EDA (electronic design automation) tools. The book is divided into three sections: i) test concepts, ii) SOC design for test, and iii) SOC test applications. The first part covers an introduction into test problems including faults, fault types, design-flow, design-for-test techniques such as scan-testing and Boundary Scan. The second part of the book discusses SOC related problems such as system modeling, test conflicts, power consumption, test access mechanism design, test scheduling and defect-oriented scheduling. Finally, the third part focuses on SOC applications, such as integrated test scheduling and TAM design, defect-oriented scheduling, and integrating test design with the core selection process.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 408 pp. Englisch. Nº de ref. del artículo: 9781402032073
Comprar nuevo
EUR 160,49
Envío por EUR 60,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization (Frontiers in Electronic Testing, 29)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: New. In. Nº de ref. del artículo: ria9781402032073_new
Comprar nuevo
EUR 163,87
Envío por EUR 13,83
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: Más de 20 disponibles
Imagen del vendedor
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
Publicado por
Springer US, Springer US, 2005
ISBN 10: 1402032072
ISBN 13: 9781402032073
Nuevo
Tapa dura
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. It gives an introduction to testing, describes the problems related to SOC testing, discusses the modeling granularity and the implementation into EDA (electronic design automation) tools. The book is divided into three sections: i) test concepts, ii) SOC design for test, and iii) SOC test applications. The first part covers an introduction into test problems including faults, fault types, design-flow, design-for-test techniques such as scan-testing and Boundary Scan. The second part of the book discusses SOC related problems such as system modeling, test conflicts, power consumption, test access mechanism design, test scheduling and defect-oriented scheduling. Finally, the third part focuses on SOC applications, such as integrated test scheduling and TAM design, defect-oriented scheduling, and integrating test design with the core selection process. Nº de ref. del artículo: 9781402032073
Comprar nuevo
EUR 168,73
Envío por EUR 63,88
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Condición: New. pp. 412. Nº de ref. del artículo: 26322526
Comprar nuevo
EUR 208,26
Envío por EUR 3,42
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 4 disponibles
Imagen de archivo
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
Impresión bajo demandaLibrería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Condición: New. Print on Demand pp. 412 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam. Nº de ref. del artículo: 7558145
Comprar nuevo
EUR 218,17
Envío por EUR 7,50
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 4 disponibles
Imagen de archivo
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
Impresión bajo demandaLibrería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Condición: New. PRINT ON DEMAND pp. 412. Nº de ref. del artículo: 18322516
Comprar nuevo
EUR 219,26
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 4 disponibles
Imagen de archivo
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization (Frontiers in Electronic Testing)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Hardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book. Nº de ref. del artículo: ERICA75814020320725
Comprar usado
EUR 257,97
Envío por EUR 28,85
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles