Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)

Idioma: inglés

Editorial: CRC Press, 1997

0849394503 / 9780849394508

Serie: Libro 4 de 4 - Electronic Packaging

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Título
Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)
Autor
Lall, Pradeep; Pecht, Michael G.; Hakim, Edward B.
Editorial
CRC Press
Año de publicación
1997
Estado
New
Encuadernación
Encuadernación de tapa dura
Idioma
inglés
ISBN 10
0849394503
ISBN 13
9780849394508
Serie
Libro 4 de 4: Electronic Packaging

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