An Improved Markov Random Field Design Approach For Digital Circuits : Introducing Fault-Tolerance With Higher Noise-Immunity For The Nano-Circuits As Compared To CMOS And MRF Designs

Idioma: inglés

Editorial: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2011

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nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - As the MOSFET dimensions scale down to nanoscale level, the reliability of circuits based on these devices decreases. Therefore, a mechanism has to be devised that can make the nanoscale systems perform reliably using unreliable circuit components. The solution is fault-tolerant circuit design. Markov Random Field (MRF) is an effective approach that achieves fault-tolerance in integrated circuit design. The previous research on this technique suffers from limitations at the design, simulation and implementation levels. As improvements, the MRF fault-tolerance rules have been validated for a practical circuit example. The simulation framework is extended from thermal to a combination of thermal and random telegraph signal noise sources to provide a more rigorous noise environment for the simulation of nanoscale circuits. Moreover, an architecture-level improvement has been proposed in the design of previous MRF gates. The re-designed MRF is termed as Improved-MRF. By simulating various test circuits in Cadence, it is found that Improved-MRF circuits are 400 whereas MRF circuits are only 10 times more noise-tolerant than the CMOS alternatives.…

N° de ref. del artículo 9783844332636

Título
An Improved Markov Random Field Design Approach For Digital Circuits : Introducing Fault-Tolerance With Higher Noise-Immunity For The Nano-Circuits As Compared To CMOS And MRF Designs
Autor
Vijanth Sagayan Asirvadam
Editorial
LAP LAMBERT Academic Publishing
Año de publicación
2011
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
3844332634
ISBN 13
9783844332636
Peso del artículo
149 gramos
Dimensiones
220x150x6 mm

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