High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip

Idioma: inglés

Editorial: Springer, Springer Mai 2018, 2018

9811093210 / 9789811093210

Serie: Libro 2 de 13 - Computer Architecture and Design Methodologies

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book introduces a novel framework for accurately modeling the errors in nanoscale CMOS technology and developing a smooth tool flow at high-level design abstractions to estimate and mitigate the effects of errors. The book presents novel techniques for high-level fault simulation and reliability estimation as well as architecture-level and system-level fault tolerant designs. It also presents a survey of state-of-the-art problems and solutions, offering insights into reliability issues in digital design and their cross-layer countermeasures.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 220 pp. Englisch.

N° de ref. del artículo 9789811093210

Título
High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip
Autor
Zheng Wang
Editorial
Springer, Springer Mai 2018
Año de publicación
2018
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
9811093210
ISBN 13
9789811093210
Peso del artículo
341 gramos
Dimensiones
235x155x13 mm
Serie
Libro 2 de 13: Computer Architecture and Design Methodologies

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