Emerging Nanotechnologies : Test, Defect Tolerance, and Reliability

Libro 19 de 40: Frontiers in Electronic Testing

Springer (COR)

ISBN 10: 144194513X ISBN 13: 9781441945136
Editorial: Springer, 2010
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa blanda

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