Electron Microscopy : Principles and Fundamentals

Unbekannt

ISBN 10: 3527294791 ISBN 13: 9783527294794

Editorial: WILEY-VCH Verlag GmbH, 1997

Idioma: Ingl�s

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Zustand: Gut | Seiten: 560 | Sprache: Englisch | Produktart: B�cher.

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Detalles bibliogr�ficos

T�tulo

Electron Microscopy : Principles and Fundamentals

Editor

WILEY-VCH Verlag GmbH

Fecha de publicaci�n

1997

Idioma

Ingl�s

ISBN 10

3527294791

ISBN 13

9783527294794

Encuadernaci�n

Encuadernaci�n de tapa dura

Estado

Gut

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Acerca de

Sinopsis

Derived from the successful three-volume Handbook of Microscopy, this book provides a broad survey of the physical fundamentals and principles of all modern techniques of electron microscopy. This reference work on the method most often used for the characterization of surfaces offers a competent comparison of the feasibilities of the latest developments in this field of research. Topics include: Stationary Beam Methods: Transmission Electron Microscopy/ Electron Energy Loss Spectroscopy/ Convergent Electron Beam Diffraction/ Low Energy Electron Microscopy/ Electron Holographic Methods Scanning Beam Methods: Scanning Transmission Electron Microscopy/ Scanning Auger and XPS Microscopy/ Scanning Microanalysis/ Imaging Secondary Ion Mass Spectrometry Magnetic Microscopy: Scanning Electron Microscopy with Polarization Analysis/ Spin Polarized Low Energy Electron Microscopy Materials scientists as well as any surface scientist will find this book an invaluable source of information for the principles of electron microscopy.

De la contraportada

Electron Microscopy Principles and Fundamentals Edited by S. Amelinckx, D. van Dyck, J. van Landuyt, G. van Tendeloo Derived from the successful three-volume Handbook of Microscopy, this book provides a broad survey of the physical fundamentals and principles of all modern techniques of electron microscopy. This reference work on the method most often used for the characterization of surfaces offers a competent comparison of the feasibilities of the latest developments in this field of research. Topics include:

Stationary Beam Methods: Transmission Electron Microscoy/Electron Energy Loss Spectroscopy/Convergent Electron Beam Diffraction/Low Energy Electron Microscopy/Electron Holographic Methods
Scanning Beam Methods: Scanning Transmission Electron Microscopy/Scanning Auger and XPS Microscopy/Scanning Microanalysis/Imaging Secondary Ion Mass Spectrometry
Magnetic Microscopy: Scanning Electron Microscopy with Polarization Analysis/Spin Polarized Low Energy Electron Microscopy

Materials scientists as well as any surface scientist will find this book an invaluable source of information for the principles of electron microscopy.

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