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Sinopsis
Derived from the successful three-volume Handbook of Microscopy, this book provides a broad survey of the physical fundamentals and principles of all modern techniques of electron microscopy. This reference work on the method most often used for the characterization of surfaces offers a competent comparison of the feasibilities of the latest developments in this field of research. Topics include: Stationary Beam Methods: Transmission Electron Microscopy/ Electron Energy Loss Spectroscopy/ Convergent Electron Beam Diffraction/ Low Energy Electron Microscopy/ Electron Holographic Methods Scanning Beam Methods: Scanning Transmission Electron Microscopy/ Scanning Auger and XPS Microscopy/ Scanning Microanalysis/ Imaging Secondary Ion Mass Spectrometry Magnetic Microscopy: Scanning Electron Microscopy with Polarization Analysis/ Spin Polarized Low Energy Electron Microscopy Materials scientists as well as any surface scientist will find this book an invaluable source of information for the principles of electron microscopy.
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Electron Microscopy Principles and Fundamentals Edited by S. Amelinckx, D. van Dyck, J. van Landuyt, G. van Tendeloo Derived from the successful three-volume Handbook of Microscopy, this book provides a broad survey of the physical fundamentals and principles of all modern techniques of electron microscopy. This reference work on the method most often used for the characterization of surfaces offers a competent comparison of the feasibilities of the latest developments in this field of research. Topics include:
- Stationary Beam Methods: Transmission Electron Microscoy/Electron Energy Loss Spectroscopy/Convergent Electron Beam Diffraction/Low Energy Electron Microscopy/Electron Holographic Methods
- Scanning Beam Methods: Scanning Transmission Electron Microscopy/Scanning Auger and XPS Microscopy/Scanning Microanalysis/Imaging Secondary Ion Mass Spectrometry
- Magnetic Microscopy: Scanning Electron Microscopy with Polarization Analysis/Spin Polarized Low Energy Electron Microscopy
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- EditorialWiley-VCH Verlag GmbH
- Año de publicación1997
- ISBN 10 3527294791
- ISBN 13 9783527294794
- EncuadernaciónTapa dura
- IdiomaInglés
- Número de páginas527
- EditorAmelinckx S.
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Electron Microscopy : Principles and Fundamentals
Publicado por
WILEY-VCH Verlag GmbH, 1997
ISBN 10: 3527294791
ISBN 13: 9783527294794
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Tapa dura
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Condición: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 560 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher. Nº de ref. del artículo: 253534/203
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Electron Microscopy: Principles and Fundamentals
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Wiley-VCH Publishing, 1997
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Condición: Good. Good+; Hardcover; Withdrawn library copy with the standard library markings; Light wear to the covers; Library stamps to the endpapers; Text pages are clean & unmarked; Binding is excellent with a straight spine; This book will be shipped in a sturdy cardboard box with foam padding; Medium Format (8.5" - 9.75" tall); White and blue covers with title in black lettering; 1997, Wiley-VCH Publishing; 527 pages; "Electron Microscopy: Principles and Fundamentals," by Edited by: S. Amelinckx. Nº de ref. del artículo: SKU-105BC01010171
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Electron Microscopy: Principles and Fundamentals
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