Developments in the Use of Failure Rate Data and Reliability Prediction Methods for Hardware

Idioma: inglés

Editorial: Technis, 2000

0951656260 / 9780951656266

  • Tapa blanda
  • Usado
Ver todos los detalles
Imagen del artículo 1 de 2.

Librería: BoundlessBookstore, Wallingford, Reino UnidoBoundlessBookstore

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de IberLibro desde 12 de febrero de 2013

Tapa blanda

Condición: Usado - Aceptable

EUR 3,66

Envío por EUR 8,26 
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 1 disponible

Añadir al carrito
Devoluciones gratuitas de 30 días

Descripción del artículo del vendedor

Signed with gift message. Good condition paperback. Book content is clean and bright. Covers have light wear. There will be no loose pages.

N° de ref. del artículo 9999-9993500665

Detalles bibliográficos

Título
Developments in the Use of Failure Rate Data and Reliability Prediction Methods for Hardware
Autor
Smith, David John
Editorial
Technis
Año de publicación
2000
Estado
Good
Encuadernación
Encuadernación de tapa blanda
Idioma
inglés
ISBN 10
0951656260
ISBN 13
9780951656266

BoundlessBookstore

Wallingford, Reino Unido

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de IberLibro desde 12 de febrero de 2013

Tarifas de envío de Reino Unido a Estados Unidos de America

ArtículoDe 5 a 15 días hábilesDe 5 a 15 días hábiles
Primer artículoEUR 8,26EUR 8,26
Los plazos de entrega los establecen los vendedores y varían según el transportista y la ubicación. Los pedidos que pasan por la aduana pueden sufrir retrasos y los compradores son responsables de los aranceles o tarifas asociadas. Los vendedores pueden ponerse en contacto con usted en relación con cargos adicionales para cubrir cualquier aumento en los costes de envío de los artículos.

Métodos de pago

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay

Información empresarial del vendedor

WRAP Ltd.

Unit 4, 119 Loverock Rd
Reading, Reino Unido RG30 1DZ