Design for Yield and Reliability for Nanometer CMOS Digital Circuits

Idioma: inglés

Editorial: LAP LAMBERT Academic Publishing Jan 2014, 2014

365951361X / 9783659513619

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The nano-age has already begun, where typical feature dimensions are smaller than 100nm. The operating frequency is expected to increase up to 12 GHz, and a single chip will contain over 40 billion transistors in 2020, as given by the International Technology Roadmap for Semiconductors (ITRS) initiative. ITRS also predicts that the scaling of CMOS devices and process technology, as it is known today, will become much more difficult as the industry advances towards the 16nm technology node and further. This aggressive scaling of CMOS technology has pushed the devices to their physical limits. Design goals are governed by several factors other than power, performance and area such as process variations, radiation induced soft errors, and aging degradation mechanisms. These new design challenges have a strong impact on the parametric yield and reliability of nanometer digital circuits and also result in functional yield losses in variation-sensitive digital circuits such as Static Random Access Memory (SRAM) and flip-flops. 296 pp. Englisch.

N° de ref. del artículo 9783659513619

Título
Design for Yield and Reliability for Nanometer CMOS Digital Circuits
Autor
Hassan Mostafa
Editorial
LAP LAMBERT Academic Publishing Jan 2014
Año de publicación
2014
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
365951361X
ISBN 13
9783659513619
Peso del artículo
459 gramos
Dimensiones
220x150x18 mm

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