Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Manoj Sachdev

ISBN 10: 8184894295 ISBN 13: 9788184894295

Editorial: New Age International Publisher, 2010

Idioma: Ingl�s

Condici�n: Nuevo Encuadernaci�n de tapa blanda

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T�tulo

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Editor

New Age International Publisher

Fecha de publicaci�n

2010

Idioma

Ingl�s

ISBN 10

8184894295

ISBN 13

9788184894295

Encuadernaci�n

Encuadernaci�n de tapa blanda

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Nuevo

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