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[Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits] (By: Manoj Sachdev) [published: February, 2010] - Tapa blanda
Libro 18 de 36: Frontiers in Electronic Testing![9788184894295: [Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits] (By: Manoj Sachdev) [published: February, 2010]](https://pictures.abebooks.com/isbn/9788184894295-es.jpg)
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Defect Oriented Testing For Nano Metric Cmos Vlsi Circuits
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DEFECT ORIENTED TESTING FOR NANO METRIC CMOS VLSI CIRCUITS
Publicado por
New Age International Publisher, 2010
ISBN 10: 8184894295
ISBN 13: 9788184894295
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DEFECT ORIENTED TESTING FOR NANO METRIC CMOS VLSI CIRCUITS
Publicado por
New Age International Publisher, 2010
ISBN 10: 8184894295
ISBN 13: 9788184894295
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DEFECT ORIENTED TESTING FOR NANO METRIC CMOS VLSI CIRCUITS
Publicado por
SPRINGER INDIA, 2021
ISBN 10: 8184894295
ISBN 13: 9788184894295
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