Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Idioma: inglés

Editorial: Springer US Jun 2007, 2007

0387465464 / 9780387465463

Serie: Libro 18 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering have been added to provide a link between defect sources and yield. The chapter on RAM testing has been updated with focus on parametric and SRAM stability testing. Similarly, newer material has been incorporated in digital fault modeling and analog testing chapters. The strength of Defect Oriented Testing for nano-Metric CMOS VLSIs lies in its industrial relevance. 352 pp. Englisch.

N° de ref. del artículo 9780387465463

Título
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Autor
José Pineda de Gyvez
Editorial
Springer US Jun 2007
Año de publicación
2007
Estado
Neu
Encuadernación
Buch
Idioma
inglés
ISBN 10
0387465464
ISBN 13
9780387465463
Edición
2ª Edición
Peso del artículo
694 gramos
Dimensiones
241x160x24 mm
Serie
Libro 18 de 40: Frontiers in Electronic Testing

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