Defect and Microstructure Analysis by Diffraction

Fiala, Jaroslav, Snyder, Robert L., Bunge, Hans J.

ISBN 10: 0198501897 ISBN 13: 9780198501893
Editorial: International Union of Crystallography, 2000
Idioma: Inglés
Condición: Good Encuadernación de tapa dura

Librería: Better World Books Ltd, Dunfermline, Reino Unido

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