Defect and Microstructure Analysis by Diffraction

. Ed(s): Snyder, Robert; Fiala, Jaroslav; Bunge, Hans J.

ISBN 10: 0198501897 ISBN 13: 9780198501893
Editorial: Oxford University Press, 2000
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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