Computerized Multistage Testing : Theory and Applications

Yan, Duanli (EDT); Von Davier, Alina A. (EDT); Lewis, Charles (EDT)

ISBN 10: 1032477385 ISBN 13: 9781032477381
Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2023
Idioma: Inglés
Nuevos Condición: New Encuadernación de tapa blanda

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