T�tulo: CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing)
Editor: Springer
Fecha de publicaci�n: 2008
Idioma: Ingl�s
ISBN 10: 1402083629
ISBN 13: 9781402083624
Encuadernaci�n: Hardcover
Estado: Like New
Tipo de libro: book

Acerca de

Sinopsis

The monograph will be dedicated to SRAM (memory) design and test issues in nano-scaled technologies by adapting the cell design and chip design considerations to the growing process variations with associated test issues. Purpose: provide process-aware solutions for SRAM design and test challenges.

Acerca del autor

Prof. Sachdev has authored several successful books with Springer

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