CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability

Idioma: inglés

Editorial: Springer Nature Singapore Apr 2016, 2016

9811008825 / 9789811008825

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The subject of this book is CMOS RF circuit design for reliability. The device reliability and process variation issues on RF transmitter and receiver circuits will be particular interest to the readers in the field of semiconductor devices and circuits. This proposed book is unique to explore typical reliability issues in the device and technology level and then to examine their impact on RF wireless transceiver circuit performance. Analytical equations, experimental data, device and circuit simulation results will be given for clear explanation. The main benefit the reader derive from this book will be clear understanding on how device reliability issues affects the RF circuit performance subjected to operation aging and process variations. 112 pp. Englisch.

N° de ref. del artículo 9789811008825

Título
CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability
Autor
Jiann-Shiun Yuan
Editorial
Springer Nature Singapore Apr 2016
Año de publicación
2016
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
9811008825
ISBN 13
9789811008825
Peso del artículo
184 gramos
Dimensiones
235x155x7 mm

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